【源码】基于Arduino的强迫响应热电器件测试系统

项目简介

该项目用于辅助研究和测试热电材料与器件的强迫响应特性。项目包含一系列文档、模型和Arduino程序代码，方便用户进行热电器件的测试和数据记录，相关文件可下载使用。

项目的主要特性和功能

1. Arduino代码测试：可通过TEM_Test_Method_XXI_20062021.ino文件，在Arduino UNO模块或Arduino IDE中编译并执行测试代码。
2. 日志记录：测试过程会生成文本日志文件，如Log_TEM_XXI_12042021_15.8V_7.6_VII_Sample_Graph2.txt，用于记录测试数据。
3. 电路模型：TEC_Model_II_ForcedResponse_Wth_Experimental_71.6V_1.13sec_Thermal_Really_Final.sch文件提供了在Pspice（Orcad Family Release 9.2）中的热电器件模型。
4. 实施图片：提供实施测试的图片，如20220108_192128.jpg，帮助用户了解测试系统的实际部署和操作方式。

安装使用步骤

前提假设

假设用户已下载本项目的源码文件，且已安装Arduino IDE或相应的编程环境。

步骤

1. 解压文件：将下载的文件解压到本地目录。
2. 安装依赖：确保Arduino IDE已安装，并配置好相应的硬件驱动。
3. 打开Arduino IDE：导入TEM_Test_Method_XXI_20062021.ino文件到Arduino IDE中。
4. 配置测试参数：根据实际需求，配置测试参数，如电压、电流等。
5. 编译并上传代码：在Arduino IDE中编译代码并上传到Arduino UNO模块或相应的硬件设备。
6. 开始测试：根据电路模型和图片搭建测试环境，开始进行强迫响应测试。
7. 查看日志文件：测试结束后，查看生成的文本日志文件，分析测试结果。

注意：使用前建议详细阅读提供的文档和指南，确保正确操作和使用设备，如有问题可咨询相关专业人士或查阅相关资源。

下载地址

点击下载 【提取码: 4003】【解压密码: www.makuang.net】