项目简介
本项目聚焦于在Microchip的AVR微控制器(特别是ATTiny817)上,运用ADC(模数转换器)的噪声对策功能。借助ADC硬件样本积累器、采样延迟和自动采样延迟变化等技术,实现对零均值随机噪声的过滤,并有效应对谐波噪声。
项目的主要特性和功能
- 噪声对策:利用ADC硬件样本积累器、采样延迟和自动采样延迟变化,过滤零均值随机噪声,超越谐波噪声。
- 数据可视化:可通过MPLAB Data Visualizer或Atmel Data Visualizer绘制ADC样本图形,便于观察和分析数据。
- 多种噪声类型:通过调整代码中的宏定义,能生成并测试随机噪声、周期性噪声等不同类型的噪声。
安装使用步骤
- 准备硬件:准备ATTiny817 Xplained Pro开发板,并连接到PC。
- 下载代码:从提供的链接下载代码或复制整个仓库。
- 配置开发环境:安装并配置MPLAB X IDE、XC8编译器、MPLAB Data Visualizer等必要的开发工具。
- 打开项目:在MPLAB X IDE中打开项目。
- 参考应用笔记:阅读应用笔记AN2551 - Noise Countermeasures for ADC Applications,学习如何配置代码以处理不同噪声类型。
- 编译和编程:编译项目,使用MPLAB X IDE将程序烧录到ATTiny817微控制器中。
- 数据可视化:使用MPLAB Data Visualizer或Atmel Data Visualizer,配置工具以绘制ADC样本的图形。
- 测试不同信号:修改代码中的宏定义,测试不同噪声类型和信号,观察图形变化。
需注意,若要全面理解项目内容,可能需阅读相关应用笔记或文档,以掌握详细的硬件连接和数据可视化工具使用方法。
下载地址
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